供应进口品质的国产品牌天瑞仪器ROHS检测仪EDX4500H多少钱

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EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。　　该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。　　另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。　　性能特点　　高效超薄窗X光管，指标达到国际先进水平　　新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好　　SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比　　低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好　　智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围　　自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性　　高信噪比的电子线路单元　　针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐　　解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度　　多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制　　内置高清晰摄像头　　液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然　　技术参数　　产品型号：EDX 4500H　　产品名称：X荧光光谱仪　　测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）　　元素含量分析范围： ppm99.99%（不同元素，分析范围不同）　　同时分析元素：一次性可测几十种元素　　测量时间：30秒-200秒　　探测器能量分辨率为：145±5eV　　管压：5KV-50KV　　管流：50μA-1000μA　　测量对象状态：粉末、固体、液体　　输入电压：AC 110V/220V　　环境温度：15-30　　环境湿度：35%-70%　　样品腔体积：320mm×100mm　　外形尺寸：660mm×510mm×350mm　　重量：65Kg　　标准配置　　高效超薄窗X光管　　SDD硅漂移探测器　　数字多道技术　　光路增强系统　　高信噪比电子线路单元　　内置高清晰摄像头　　自动切换型准直器和滤光片　　自动稳谱装置　　三重安全保护模式　　可靠的整体钢架结构　　90mm×70mm的状态显示液晶屏　　真空泵　　应用领域　　合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）